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Chiller直冷控温机组

Chiller直冷控温机组

接触式高低温测试机

 

Chiller直冷控温机组-无锡冠亚恒温制冷

设备应⽤温度范围75~+200℃,⽀持从极低温到⾼温的快速升温和降温,zui快速率可达到75℃/min,能够准确的控制温度,误差通常在±0.2℃以内。

应⽤于芯⽚研发:在芯⽚设计阶段,验证其在不同温度下的性能表现;

质量控制:在芯⽚⽣产过程中,进⾏可靠性测试,确保产品符合标准;

失效分析:通过⾼低温测试,分析芯⽚在极端温度下的实效模式。

KSD系列

设备型号 KSD-705-A KSD-705-B KSD-710
温度范围 -70℃~200℃ -75℃~+200℃ -75℃~200℃
温度精度 ±0.2℃
升降温速率 zui高达50℃/min zui高达75℃/min zui高达75℃/min
制冷能力 0℃ 250W 1000W 2000W
 -40℃ 150W 800W 1500W
 -55℃ 100W 450W 900W
测试压头规格 75*75mm 75*75mm 120*120mm


KSDR-系列

设备型号 KSDR-705-B KSDR-710
温度范围 -75℃~+200℃ -75℃~200℃
温度精度 ±0.2℃
升降温速率 zui高达75℃/min zui高达75℃/min
制冷能力 0℃ 1000W 2000W
 -40℃ 800W 1500W
 -55℃ 450W 900W
测试压头规格 75*75mm 120*120mm

 


ZLTZ高效换热控温机组

Chiller直冷控温机组-无锡冠亚恒温制冷

新型直冷机适用于半导体、数据中心、新能源等需要高效、紧凑、可靠且精确散热的行业,尤其是在功率密度高、空间受限且对温度敏感的领域有显着优势。

新型直冷机无二次换热,相比于传统液冷设备,减少二次换热带来的传热损失,提升能效。

新型直冷机能够提供纯液态的换热介质,相比于传统直冷机气液两相混合的换热介质,新型直冷机充分利用制冷剂的潜热换热,换热密度大幅提高,所需的换热面积减少,能够满足半导体等行业高功率密度的需求。

新型直冷机具备多路供液的能力,可精确控制每个支路的制冷量,满足各支路的控温需求。新型直冷机采用PT100高精度温度传感器和PID智能控制系统,温度误差范围极小,控温精确可靠。

 

型号 ZLTZ-3
ZLTZ-3W
ZLTZ-6
ZLTZ-6W
ZLTZ-10
ZLTZ-10W
ZLTZ-15W
温度范围  -10℃ ~25℃
制冷量 0℃ 8.1kW 16.25kW 28.5kW 40.2kW
-10℃ 5.48kW 11kW 19.35kW 26.6kW

 

 

型号 ZLTZ4-3
ZLTZ4-3W
ZLTZ4-6
ZLTZ4-6W
ZLTZ4-10
ZLTZ4-10W
ZLTZ4-15W
温度范围  -40℃ ~20℃
制冷量 -10℃ 5.2kW 11.15kW 18.4kW 26.3kW
-20℃ 3.47kW 7.41kW 12.3kW 18.35kW
-30℃ 2.24kW 4.81kW 7.92kW 11.8kW
-40℃ 1.36kW 2.95kW 4.7kW 5.83kW

 


ZLJ系列超低温直冷机

Chiller直冷控温机组-无锡冠亚恒温制冷将制冷系统中的制冷剂直接输出蒸发进入目标控制元件(换热器)换热,从而使目标控制对象降温。具备换热能力相对于流体(气体)输送入换热器换热能力更高,这样特别适用于换热器换热面积小,但是换热量大的运用场所。也可以如气体捕集运用,将制冷剂直接通入捕集器蒸发,通过捕集器表面冷凝效应,迅速捕集空间中的气体。

 

 

 

 

型号 ZLJ-41W ZLJ-42W ZLJ-43W
温度范围  -40℃~-15℃
控温精度 ±1℃(出口温度稳态)
制冷AT-35℃ 0.25kW 0.7kW 1.5kW

 

型号 ZLJ-81W ZLJ-82W ZLJ-83W
温度范围  -80℃~-50℃
控温精度 ±1℃(出口温度稳态)
制冷AT-70℃ 0.3kW 0.6kW 1.5kW

 

型号 SLJ-3W SLJ-4W SLJ-6W SLJ-11W
温度范围 -150℃~-110℃
制冷AT-120℃ 3kW 4kW 6kW 11kW
制冷AT-135℃ 2.5kW 3.3kW 5kW 9kW

 


 

快速温变控温卡盘CHUCK

Chiller直冷控温机组-无锡冠亚恒温制冷

探针台是半导体晶圆与芯片电学性能测试的核心装备,其温度稳定性直接决定测试精度与设备可靠性。

本方案为探针台提供一体化高精度温控解决方案,由精密液冷机(CHILLER)、温控卡盘(CHUCK)、干燥单元(DRYER)及电气控制柜组成完整闭环系统。通过主动热控技术(Active Thermal Control),实现对晶圆、探针台主体及关键部件的精准温度调控与高效散热,有效抑制测试过程中的温度漂移,保证测试数据一致性与设备长期稳定运行。

整套系统控温精度高、响应速度快、运行稳定可靠,可满足半导体晶圆检测、可靠性测试、高端探针台配套等严苛场景需求,全面提升测试效率与产品良率。

 

卡盘类型 GY-CP-8HCV GY-CP-12HCV GY-CP-SQ3434HCV
配套Chiller GY-PCH-803
GY-PCH-803W
GY-PCH-805
GY-PCH-805W
GY-PCH-803
GY-PCH-803W
GY-PCH-805
GY-PCH-805W
GY-PCH-8010
GY-PCH-8010W
GY-PCH-8010
GY-PCH-8010W
温度范围 -45℃-200℃ -55℃-200℃ -45℃-200℃ -55℃-200℃ -65℃-200℃ -65℃-200℃
Chiller电源 380 VAC ± 10%,三相(可定制)
Chiller总功率 8.5kW 12.5kW 8.5kW 12.5kW 27.5kW 27.5kW
配套控温模组 DX-CHUCK-3
温度均匀性 土0.5℃
Chuck加热能力 1.5KW@DC48V 2.5KW@DC120V 3KW@DC48V

 


 

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Chiller直冷控温机组-无锡冠亚恒温制冷

 

 

 

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